底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

儀器水平線性影響（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。