A.IP由基層、熒光體層和保護(hù)層構(gòu)成
B.IP由基層、晶體層構(gòu)成
C.IP用于檢測(cè)圖像數(shù)據(jù)
D.IP用于存儲(chǔ)圖像數(shù)據(jù)
E.IP用于傳輸圖像數(shù)據(jù)
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A.400
B.200
C.100
D.50
E.10
A.直接探測(cè)器
B.間接探測(cè)器
C.模擬探測(cè)器
D.平板探測(cè)器
E.動(dòng)態(tài)探測(cè)器
A.成像時(shí)間短
B.X線利用效率高
C.圖像質(zhì)量好
D.系統(tǒng)成本高
E.以上都是
A.X線-電信號(hào)-數(shù)字圖像
B.X線-可見(jiàn)光-電信號(hào)-數(shù)字圖像
C.X線-可見(jiàn)光-電信號(hào)-模擬圖像
D.X線-電信號(hào)-熒光屏-模擬圖像
E.X線-電信號(hào)-熒光屏-數(shù)字圖像
A.成像環(huán)節(jié)少
B.吸收率高
C.靈敏度高
D.量子檢出效率高
E.無(wú)電離輻射
最新試題
CR的缺點(diǎn)有()
直接數(shù)字化X射線攝影,硒物質(zhì)直接轉(zhuǎn)換技術(shù)X射線的吸收率高于間接轉(zhuǎn)換技術(shù)()
間接DR中,位于FPD頂層的是()
關(guān)于該平板探測(cè)器的敘述錯(cuò)誤的是()
直接數(shù)字化X射線攝影采用多少位的圖像數(shù)字化轉(zhuǎn)換()
從X線到影像按“潛影→可見(jiàn)光→數(shù)字影像”這一程序轉(zhuǎn)換的是()
關(guān)于CR的信息采集敘述錯(cuò)誤的是()
根據(jù)IP上影像信息自動(dòng)選擇圖像讀出條件是在()
CR圖像與X線成像比較,哪項(xiàng)表述不正確()
DR使用的檢測(cè)裝置是()