A.E(ε)=0
B.E(ε)=1
C.
D.
E.Var(ε)=0
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B.判定系數(shù)
C.復相關系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率
A.提出假設H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗結果認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高
小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設越容易被拒絕
最新試題
第二手數(shù)據(jù)可以通過抽樣調查獲得。()
成本總指數(shù)為()。
在運用實驗法獲取數(shù)據(jù)時,實驗組和對照組的產生應當是隨機的。()
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