A.缺陷、材質(zhì)變化、尺寸變化等的顯示度可以區(qū)別得出
B.一般說來,缺陷同材質(zhì)不連續(xù)部分的顯示很難區(qū)別
C.檢測表面缺陷的能力很強
D.因內(nèi)部缺陷的信息都能感應到表面上來,所以內(nèi)部缺陷與表面缺陷的檢測能力相仿
E.b和c是正確的
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A.用來抑制因強磁性材料加工引起的磁導率不均勻而造成的雜亂信號
B.用來降低強磁性材料的磁導率,從而減小渦流的集膚效應
C.用來抑制試件表面凹凸不平所引起的雜亂信號
D.用來提高強磁性材料的磁通密度,從而提高探傷靈敏度
E.A和B是正確的
A.材料厚度
B.需要的透入深度
C.需要的靈敏度和分辨力
D.檢驗目的
E.以上都是
A.信號放大
B.信號處理
C.信號顯示
D.信號報警
A.常溫(-10~+40℃)
B.高溫(800-1200℃)
C.中溫(100-800℃)
D.以上均可
A.金屬細絲
B.鋼絲繩
C.方坯內(nèi)部
D.板材表面
最新試題
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
提出有效磁導率的是下列哪位科學家()
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。