A.表面上;
B.中心;
C.表面和中心之間的中點;
D.以上都不是.
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A.試驗速度;
B.傳感線圈的阻抗;
C.以上都不是;
D.以上都是.
A.小缺陷;
B.電導(dǎo)率變化;
C.直徑變化;
D.壁厚變化.
A.小于2;
B.大于2;
C.大于4;
D.大于10.
A.正弦波;
B.鋸齒波;
C.方波;
D.無電壓
A.與定時電壓同相的正弦波;
B.與定時電壓相位相差90°的正弦波;
C.鋸齒波;
D.零電壓
最新試題
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責(zé),對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應(yīng)予以配合。
焊接工藝處理超標缺陷必須閱片的主要目的是()。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責(zé)管理。
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應(yīng)標注,確保定位準確。