A.12dB
B.3dB
C.6dB
D.9dB
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A.1倍
B.兩倍
C.1/2倍
D.1/4倍
A.4倍
B.1/4倍
C.1/8倍
D.1/2倍
A、水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、分辨率
B、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、信噪比
C、盲區(qū),晶片尺寸
D、A和B
A.24°
B.27°
C.37°
D.48°
A.14.7°
B.27.2°
C.28.5°
D.45°
最新試題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)()要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線(xiàn)機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
下列關(guān)于無(wú)限大固體介質(zhì)中聲速的說(shuō)法錯(cuò)誤的有()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿(mǎn)足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián),所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
滲透檢測(cè)體系的分辨力是指滲透檢測(cè)體系()的能力。