A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
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A、電子源
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A、德布羅意
B、魯斯卡
C、德拜
D、布拉格
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
最新試題
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實(shí)現(xiàn)的。
拉曼光譜分析時(shí),1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率,解釋通常是可靠的,一般可以確信其推論。
X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí),可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。