熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

紅外光分為（）。

根據(jù)衍襯運動學(xué)原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。