A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
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A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
A.波幅將增加或降低為原波高的1倍;
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍;
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍;
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
單探頭法容易檢出()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。