底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。

在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即（）。

觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。

按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。