列聯(lián)表是（）變量進行交叉分類的頻數(shù)分布表，它包含有（）頻數(shù)和（）頻數(shù)?？ǚ綑z驗通常被用來檢驗列聯(lián)表（）。

在產(chǎn)品抽樣檢驗和控制圖分析中經(jīng)常用到（）。

當檢驗?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時，從這批產(chǎn)品中隨機每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗中恰好有k件不合格品的概率服從（）。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

（）用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。

卡方檢驗通常被用在（）、（）。

（）應(yīng)用于一次實驗有多個可能結(jié)果的情況。

有趨勢的時間序列預(yù)測應(yīng)用（）和（）。

（）為小樣本分布，應(yīng)用在當對呈正態(tài)分布的總體的均值進行估計。

總體服從正態(tài)分布，無論樣本容量如何，樣本均值的抽樣分布均服從（），總體方差已知，均可使用（）建立總體均值的置信區(qū)間。