A.聲束擴(kuò)散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.平底孔
B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口
A.作為探測時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體
A.雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲
B.脈沖窄，探測靈敏度高
C.探頭與儀器匹配較好
D.以上都對
A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護(hù)膜探頭
C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸
D.以上都可以
A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。