A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí),在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測(cè)表層缺陷
D.爬波探測(cè)的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)
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A.鈦酸鋇(CL=5470m/s)
B.鈦酸鋰(CL=7400m/s)
C.PZT(CL=4400m/s)
D.鈦酸鉛(CL=4200m/s)
A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇
A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰
A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷探傷
A.石英
B.鈦酸鋇
C.鋯鈦酸鉛
D.硫酸鋰
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。