底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

影響較大的散射線通常來(lái)自（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）