A.300kV峰值
B.300kV平均值
C.300kV有效值
D.300kV均方根值
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A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
A.單色窄線束
B.連續(xù)標(biāo)識(shí)X線束
C.寬束連續(xù)X線束
D.A、B和C
A.1.0%
B.1.4%
C.2.0%
D.0.7%
A.遠(yuǎn)離射線源一側(cè)的工件表面上
B.靠近射線源一側(cè)的工件表面上
C.膠片暗盒表面上
D.A、B和C
A.光子數(shù)
B.正電荷數(shù)
C.中子數(shù)+電子數(shù)
D.以上都不對(duì)
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。