單項(xiàng)選擇題背散射線不影響底片的()。
A.對(duì)比度
B.清晰度
C.感光度
D.以上都不是
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1.單項(xiàng)選擇題下列技術(shù)中適于檢驗(yàn)厚度很大物體表面層缺陷的是()。
A.中子射線照相
B.射線CT技術(shù)
C.康普頓背散射成像技術(shù)
D.A、B和C
2.單項(xiàng)選擇題下列問題中適于康普頓背散射成像技術(shù)檢驗(yàn)的是()。
A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
3.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上兩個(gè)特定黑度點(diǎn)的()是對(duì)比度的平均梯度。
A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
4.單項(xiàng)選擇題在選用透照參數(shù)時(shí),曝光量應(yīng)()。
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
5.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上兩個(gè)特定黑度點(diǎn)的直線斜率是()。
A、曲線的梯度
B、寬容度
C、對(duì)比度的平均梯度
D、黑度
最新試題
冷裂紋常見的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比,散射線的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
題型:多項(xiàng)選擇題