以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對(duì)于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

影響較大的散射線通常來自（）

使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）