（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

單探頭法容易檢出（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

儀器水平線性影響（）。