A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測零件表面不會(huì)被腐蝕
C.對零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
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A.沖洗不夠
B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對于微細(xì)裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對于微細(xì)裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測定滲透劑的粘度
B.測量滲透劑的潤濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過對比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。