A.400安
B.600安
C.800安
D.1000安
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A.只允許向裝有載液的容器中施加磁粉
B.只允許向裝有磁粉的容器中施加載液
C.先用少量載液把磁粉調(diào)成糊狀,然后再緩慢稀釋
D.以上三種方法都不對(duì)
A、材料被磁化的難易程度
B、磁場(chǎng)穿透材料的能力
C、檢測(cè)最小缺陷的能力
D、以上都是
A.斷點(diǎn)相位控制器
B.整流器
C.快速斷電裝置
A.交流電
B.直流電
C.半波整流
D.三相全波整流
E.以上都是
A.方法與檢測(cè)表面裂紋相類(lèi)似
B.如果缺陷是由細(xì)小的氣孔組成的,就不難檢出
C.如果缺陷的寬度可以估計(jì)出來(lái),檢測(cè)就很簡(jiǎn)單
D.磁粉探傷方法很難檢查出來(lái)
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。