A.深度
B.長(zhǎng)度
C.寬度
D.位置和形狀
E.b和d
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A.不能檢測(cè)內(nèi)部缺陷
B.檢測(cè)時(shí)受溫度限制,溫度太高或太低均會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果
C.與其他無(wú)損檢測(cè)方法相比,需要更仔細(xì)的表面清理
D.以上都是
A.任何非多孔材料,金屬或非金屬
B.任何多孔性材料,金屬或非金屬
C.以上均不能
A.一種用來(lái)檢查非鐵磁性材料近表面缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法
B.一種用來(lái)檢查非多孔性材料的近表面缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法
C.一種用來(lái)檢查非多孔性材料近的表面和近面缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法
D.一種用來(lái)檢查非多孔性材料的表面(開(kāi)口型)缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法
A.適合于小零件批量生產(chǎn)檢驗(yàn)
B.可探測(cè)細(xì)小裂紋
C.是一種比較簡(jiǎn)單的檢測(cè)方法
D.在任何溫度下都是有效的(10度到50度之間)
A.這種方法可以發(fā)現(xiàn)各種缺陷
B.這種方法原理簡(jiǎn)單,容易理解
C.這種方法應(yīng)用比較簡(jiǎn)單
D.用這種方法檢驗(yàn)的零件尺寸和形狀幾乎沒(méi)有限制
最新試題
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>