在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

探頭移動(dòng)過程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動(dòng)，稱為擺動(dòng)掃查。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯(cuò)，放大倍數(shù)一般為（）倍。

探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測面。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

鋼軌探傷車要求嚴(yán)格執(zhí)行（）的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)定，合理設(shè)置檢測參數(shù)，動(dòng)態(tài)保持良好耦合，確保取得可靠的檢測數(shù)據(jù)。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。