濕法用磁粉粒度一般比干法小。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻妫趴梢蚤_始磁粉檢測。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。

在工件內(nèi)部的剩磁，周向磁化要比縱向磁化大的多。

打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。

一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。

剩磁法不能用于干法檢測。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

對(duì)于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。