A．高斯；
B．亨利；
C．法拉；
D．安培
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你可能感興趣的試題
A．電流：符號(hào)-I，單位-安培；
B．磁導(dǎo)率：符號(hào)-μ，單位-亨利/米；
C．磁通密度：符號(hào)-B，單位-高斯，國(guó)際單位制單位-特斯拉；
D．磁場(chǎng)強(qiáng)度：符號(hào)-H，單位-奧斯特，國(guó)際單位制單位-安/米；
E．以上都對(duì)
A．電場(chǎng)強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場(chǎng)強(qiáng)度；
D．磁通量
A．電場(chǎng)強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場(chǎng)強(qiáng)度；
D．磁通量
A、鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象
B、隨著含碳量增高，矯頑力增大
C、鐵磁性材料的磁導(dǎo)率μ遠(yuǎn)大于1，它是與外磁場(chǎng)變化無(wú)關(guān)的常數(shù)
D、鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到飽和狀態(tài)
E、A和B都對(duì)
A．磁導(dǎo)率略小于1的材料；
B．磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1的材料；
C．磁導(dǎo)率接近于1的材料；
D．磁導(dǎo)率等于1的材料
最新試題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
磁粉檢測(cè)，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
采用剩磁法時(shí)，磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加，一般通電時(shí)間為2～3s。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長(zhǎng)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)測(cè)定。
對(duì)于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來施加，施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。