A.安培/米;
B.米/安培;
C.特斯拉;
D.高斯
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你可能感興趣的試題
A.磁場測量圖;
B.磁強(qiáng)計(jì);
C.磁圖;
D.磁通計(jì)
A、順磁性的
B、逆磁性的
C、鐵磁性的
D、非鐵磁性的
A.順磁性材料;
B.抗磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.非磁性材料
A.順磁性材料;
B.抗磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.非磁性材料
A.被磁化的材料;
B.非磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.被極化的材料
最新試題
磁粉檢測,所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉檢測前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
材料磁導(dǎo)率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場換向的次數(shù)(退磁頻率)應(yīng)較多,每次下降的磁場值應(yīng)較小,且每次停留的時(shí)間(周期)要略長。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
一般說來,進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
用連續(xù)法檢測時(shí),檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。