A、直接通電磁化時，與電流方向垂直的缺陷最容易探測到
B、直接通電磁化時，與電流方向平行的缺陷最容易探測到
C、直接通電磁化時，與電流方向無關(guān)，任何方向的缺陷都能探出
D、用線圈法磁化時，與線圈內(nèi)電流方向垂直的缺陷最容易探出
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你可能感興趣的試題
A、在磁軛法中，磁極連線上的磁場方向垂直于連線
B、在觸頭法中，電極連線上的磁場方向垂直于其連線
C、在線圈法中，線圈軸上的磁場方向是與線圈軸平行的
D、在穿棒法中，磁場方向是與棒的軸平行的
E、b和c
A、兩園棒表面磁感應(yīng)強(qiáng)度是相同的
B、直徑25mm的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度近似為直徑50mm的2倍
C、直徑為50mm的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度近似為直徑25mm的四倍
D、直徑為25mm的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度近似為直徑50mm的二分之一
A、與橫截面成反比
B、與直徑成反比
C、與橫截面成正比
D、與直徑成正比
A、兩根棒的磁場相同
B、直徑為20cm的棒材磁場較強(qiáng)
C、直徑為10cm的棒材磁場較弱
D、直徑為10cm的棒材磁場較強(qiáng)
A．兩試件磁場相同；
B．直徑為50mm的棒磁場較強(qiáng)；
C．直徑為25mm的棒磁場較弱；
D．直徑為25mm的棒磁場較強(qiáng)
最新試題
剩磁法不能用于干法檢測。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。
對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
采用濕法時，應(yīng)確認(rèn)整個檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。