A、磁化強(qiáng)度為一定時(shí)，缺陷高度小于1mm的形狀相似的表面缺陷，其漏磁通與缺陷高度無(wú)關(guān)
B、缺陷離試件表面越近，缺陷漏磁通越小
C、在磁化狀態(tài)、缺陷種類(lèi)和大小為一定時(shí)，缺陷漏磁通密度受缺陷方向影響
D、交流磁化時(shí)，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化時(shí)要小
E、當(dāng)磁化強(qiáng)度、缺陷種類(lèi)和大小為一定時(shí)，缺陷處的漏磁通密度受磁化方向的影響
F、c，d和e都對(duì)
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A、摩擦力
B、矯頑力
C、漏磁場(chǎng)
D、靜電場(chǎng)
A、10條磁力線(xiàn)（1韋伯）
B、伴隨著一個(gè)磁場(chǎng)的磁力線(xiàn)條數(shù)
C、穿過(guò)與磁通平行的單位面積的磁力線(xiàn)條數(shù)
D、穿過(guò)與磁通垂直的單位面積的磁力線(xiàn)條數(shù)
A、濕法檢驗(yàn)時(shí)，在液體中懸浮磁粉的方法
B、連續(xù)法時(shí)使用的磁化力
C、表示去除材料中的剩余磁性需要的反向磁化力
D、不是用于磁粉探傷的術(shù)語(yǔ)
A．磁力線(xiàn)永不相交；
B．磁鐵磁極上磁力線(xiàn)密度最大；
C．磁力線(xiàn)沿阻力最小的路線(xiàn)通過(guò)；
D．以上都對(duì)
A、磁力線(xiàn)彼此不相交
B、磁極處磁力線(xiàn)最稠密
C、具有最短路徑，是封閉的環(huán)
D、以上三點(diǎn)都是
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí)，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來(lái)施加，施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。
采用濕法時(shí)，應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤(rùn)后，再施加磁懸液。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中，逐漸減小電流至零。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
對(duì)于交流線(xiàn)圈，線(xiàn)圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來(lái)檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤(rùn)濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?，才可以開(kāi)始磁粉檢測(cè)。