A.光電效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
B.電子對(duì)效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
C.光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
D.光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)會(huì)降低照相對(duì)比度
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A.對(duì)于低能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì),光電效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
B.對(duì)于中等能量射線和原子序數(shù)低的物質(zhì),康普頓效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
C.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì),電子對(duì)效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
D.以上都是
A.吸收和散射
B.衰變和吸收
C.衰變和散射
D.以上都是
A.λ值越小,說(shuō)明該物質(zhì)越不穩(wěn)定,衰變得越慢
B.λ值越大,說(shuō)明該物質(zhì)越不穩(wěn)定,衰變得越快
C.λ值越大,說(shuō)明該物質(zhì)越穩(wěn)定,衰變得越快
A.線狀譜
B.連續(xù)譜
C.標(biāo)識(shí)譜
D.以上都是
A.判定缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸比較準(zhǔn)確
B.檢測(cè)靈敏度受材料晶粒度的影響較大
C.成本較高,檢測(cè)速度不快
D.射線對(duì)人體有傷害
最新試題
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
下列有關(guān)評(píng)片的敘述哪一條是錯(cuò)誤的()
射線照相在哪些情況下遵守互易定律()
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
A型脈沖超聲波檢測(cè)存在的主要問(wèn)題是()
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
焊縫射線照相操作中,透照方向確定的基本原則是()