A、本底化學(xué)灰霧度
B、其他灰霧度
C、微量密度
D、散射灰霧度
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你可能感興趣的試題
A、幾何形狀不規(guī)則
B、鉛屏蔽
C、膠片質(zhì)量
D、側(cè)面散射線
A、膠片本身質(zhì)量有問題
B、膠片被宇宙線曝光
C、暗盒邊緣處漏光
D、膠片受散射線照射
A、膠片本身質(zhì)量問題、膠片儲(chǔ)藏時(shí)間過(guò)久或超過(guò)有效期較長(zhǎng)
B、暗室紅燈過(guò)亮,顯影液濃度過(guò)高、顯影液溫度過(guò)高
C、膠片在透照前已曝光,曝光過(guò)度,受散射線影響
D、以上都是
A、底片暗盒受熱,例如陽(yáng)光或輻射熱
B、暗盒漏光
C、顯影液溫度過(guò)高
D、以上都是
A、條紋
B、粒度
C、點(diǎn)
D、白垢
最新試題
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。