A、每張底片一片透度計(jì)
B、每張底片兩片透度計(jì),分置底片兩端
C、至少三片透度計(jì),相距120º
D、至少四片透度計(jì),相距90º
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A、底片側(cè)
B、射源側(cè)
C、任一側(cè)均可
D、不需要
A、雙壁技術(shù)雙壁判讀
B、雙壁技術(shù)單壁判讀
C、單壁技術(shù)單壁判讀
D、a與b均可
A、L=2(0.21)1/2F
B、F=2(0.21)1/2L
C、L=2(0.21F)1/2
D、L=(0.21)1/2F
A、制作專用托座
B、制作專用夾具
C、補(bǔ)償物法
D、使用濾波板
A、較薄的大晶粒重元素合金鑄件
B、鎳基高溫合金鑄件
C、鑄造單晶葉片
D、以上都是
最新試題
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()