A、射源至試件距離越遠(yuǎn),影像放大得越大
B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大,影像放大得越大
C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小,影像放大得越大
D、射源至試件的距離與影像放大無(wú)關(guān)
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A、射源至底片的距離
B、曝光時(shí)間
C、KV
D、mA
A、第一次較易檢出缺陷
B、第二次較易檢出缺陷
C、對(duì)于缺陷檢出力無(wú)法比較
D、以上都對(duì)
A、8.5英寸底片三張,雙壁照相單壁看片
B、8.5英寸底片兩張,雙壁照相雙壁看片
C、8.5英寸底片四張,雙壁照相單壁看片
D、12英寸底片三張,雙壁照相單壁看片
A、橢圓投影,至少相隔90°兩次照像,雙壁看片
B、橢圓投影,至少相隔180°兩次照像,雙壁看片
C、一次橢圓投影,雙壁看片
D、以上都可以
A、將會(huì)產(chǎn)生相同強(qiáng)度與品質(zhì)的輻射線
B、將會(huì)產(chǎn)生相同強(qiáng)度、品質(zhì)不同的輻射線
C、將會(huì)產(chǎn)生不同強(qiáng)度、相同品質(zhì)的輻射線
D、輻射強(qiáng)度與品質(zhì)均不同
最新試題
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。