A、雙壁單影
B、雙壁雙影
C、周向曝光
D、源在內(nèi)偏心單壁透照
E、以上都是
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A、源在外單壁透照
B、源在外雙壁透照
C、源在內(nèi)周向單壁透照
D、源在內(nèi)偏心單壁透照
E、以上都是
A、焦距越大，有效透照長度越小
B、焦距越大，有效透照長度越大
C、焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最大
A、焦距越大，有效透照長度越小
B、焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最大
C、以上都對(duì)
A、焦距越大，有效透照長度越小
B、焦距越大，有效透照長度越大
C、焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最小
A、源在外的雙壁透照雙壁成影
B、射線源置環(huán)縫中心作周向曝光
C、射線源置環(huán)縫內(nèi)偏心曝光
D、以上都是
最新試題
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）
關(guān)于超聲波斜入射，下列說法正確的是（）
散射比的大小與（）因素有關(guān)。
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí)，會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象（）
在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長度）。
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）
與直探頭相比，雙晶探頭（）