A、熒光屏觀(guān)察法
B、高KV值射線(xiàn)照相法
C、低KV值射線(xiàn)照相法
D、干板射線(xiàn)照相法
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A、相同的
B、不規(guī)則的
C、隨著管電壓增大而增大
D、隨著管電壓降低而減小
A、增加散射線(xiàn)
B、減小影像對(duì)比度
C、增加感光效果
D、只能用于X射線(xiàn)而不能用于伽瑪射線(xiàn)
A、能更好地使射線(xiàn)激發(fā)鉛箔而產(chǎn)生電子和二次輻射線(xiàn),對(duì)膠片的感光作用增強(qiáng)而減少曝光時(shí)間
B、更能使鉛箔吸收較長(zhǎng)波長(zhǎng)的輻射線(xiàn),從而提高底片的質(zhì)量
C、對(duì)一次輻射線(xiàn)的增強(qiáng)比對(duì)散射線(xiàn)的增強(qiáng)更大,因而底片質(zhì)量也就提高了
D、以上都是
A、膠片類(lèi)型
B、顯影處理工藝
C、底片黑度
D、增感屏類(lèi)型
E、以上都是
A、試樣厚度、成份、密度的差別
B、射線(xiàn)的硬度
C、散射
D、以上都是
最新試題
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
射線(xiàn)照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大小()
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
采用X射線(xiàn)機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
小口徑管道射線(xiàn)探傷時(shí)常采用()方法透照。