A、增加射源至物件的距離
B、增加增感屏厚度
C、減少曝光時(shí)間
D、增加曝光時(shí)間
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A、散熱效果良好
B、底片清晰度良好
C、不要有實(shí)際焦點(diǎn)
D、X光穿透力良好
A、測(cè)量X光管焦點(diǎn)的大略尺寸
B、測(cè)量X射線(xiàn)中央部分的強(qiáng)度
C、測(cè)量鉛片上針孔的大小
D、檢驗(yàn)鉛片的品質(zhì)
A、鎢
B、碳化鎢
C、鎢合金
D、白銥合金
E、鉛
F、以上都可以
A、3mm
B、2mm
C、1mm
D、0.4mm
A、用較多的鉛作屏蔽
B、射源能量的大小允許采用較大的源至膠片距離
C、使用感光速度快的膠片
D、減少曝光時(shí)間
最新試題
采用X射線(xiàn)機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()
超聲縱波以590000cm/s的速度穿過(guò)29.5mm厚的工件,所需時(shí)間為()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
射線(xiàn)經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。