單項(xiàng)選擇題鍛件探傷時(shí),若材料中存在白點(diǎn),其特征為()

A、回波清晰、尖銳
B、缺陷的區(qū)域較大且集中于工件中心部位
C、會(huì)造成底波衰減
D、以上都是


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1.單項(xiàng)選擇題鋼管水浸探傷時(shí),水中加入適量潤(rùn)濕劑的目的是()

A、調(diào)節(jié)水的粘度
B、消除水中氣泡
C、提高水的浸潤(rùn)能力
D、防止水的混濁

2.單項(xiàng)選擇題頻率大于5兆赫的探頭最適宜于()

A、鋁錠的縱波接觸法探傷
B、鋼管的橫波接觸法探傷
C、金屬板材的接觸法探傷
D、水浸法探測(cè)小口徑薄壁管

3.單項(xiàng)選擇題用25兆赫硫酸鋰晶片制的探頭最適宜采用()探傷

A、縱波接觸法
B、水浸探傷法
C、橫波接觸法
D、表面波接觸法

4.單項(xiàng)選擇題利用三個(gè)平底孔繪制實(shí)測(cè)“距離-波幅”曲線時(shí),有時(shí)所得到距探測(cè)面最近的孔的反射回波幅度較其他兩孔的低,這是由于()所致

A、三平底孔試塊的探測(cè)面表面狀態(tài)不一致
B、近場(chǎng)的影響
C、孔的幾何形狀不正確
D、以上都是

5.單項(xiàng)選擇題水浸探傷法的優(yōu)點(diǎn)是()

A、能提高探測(cè)速度
B、易于控制聲束入射方向
C、易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)探傷
D、以上都是

最新試題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題