原材料和零部件磁粉檢驗(yàn)的磁化方法一般不推薦使用（）。

當(dāng)被檢測(cè)材料的材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，會(huì)引起草狀回波，使信噪比提高。

橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。

按照ASME 規(guī)范要求可以用來(lái)作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是：（）。

下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)，哪種不是陰影測(cè)量法：（）。

無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。

下列缺陷可能影響無(wú)損檢測(cè)結(jié)果判斷的是：（）。

哪種磁化方法最難退磁（）？

關(guān)于毫特斯拉計(jì)的敘述，錯(cuò)誤的是：（）。

C 型顯示是工件的平面投影圖，所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。