（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。

單探頭法容易檢出（）。