超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。

儀器水平線性影響（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。

超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。