A.斷續(xù)分布的長(zhǎng)條狀缺陷
B.熱處理參數(shù)不當(dāng)而產(chǎn)生的內(nèi)裂紋
C.殘余應(yīng)力
D.上述三種缺陷都有
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A.端面垂直圓孔
B.徑向平底孔
C.裂紋
D.底面反射代替人工孔
A.可用鋼錠代替
B.采用無傷鈾鑄錠
C.鉛塊
D.都行
A.利于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化探傷
B.易于實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
C.聚焦后可提高探測(cè)靈敏度，減少雜法干擾
D.上述三種優(yōu)點(diǎn)都有
A.采用低頻直探頭，分層調(diào)整探傷靈敏度
B.轉(zhuǎn)換為橫波探傷
C.用水做耦合劑
D.不加耦合劑
A.粗晶散射
B.對(duì)聲能的粘滯吸收極強(qiáng)
C.用高頻時(shí)有草叢回法
D.三種原因都有
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。