A.0.25兆赫
B.小于2兆赫
C.5~15兆赫
D.上述三種都可以
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A.管材旋轉(zhuǎn),探頭前進(jìn)
B.管材旋轉(zhuǎn)前進(jìn),探頭不動(dòng)
C.探頭旋轉(zhuǎn),管材前進(jìn)
D.探頭旋轉(zhuǎn)前進(jìn),管材不動(dòng)
A.管材旋轉(zhuǎn),探頭前進(jìn)
B.管材旋轉(zhuǎn)前進(jìn)
C.探頭旋轉(zhuǎn),管材前進(jìn)
D.上述三種方式都可以
A.90°
B.45°
C.10°
D.接近零
A.大于第一臨界角
B.小于第二臨界角
C.小于第一臨界角
D.大于第二臨界角小于第一臨界角的1/2
A.是正弦波
B.寬
C.窄
D.低頻縱波
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
單探頭法容易檢出()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。