儀器水平線性影響（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

單探頭法容易檢出（）。

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。