判斷題晶片越厚頻率越低。
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最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
題型:單項選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
題型:單項選擇題