圖中探頭A在進(jìn)行()
A.驗(yàn)證試塊的圓度
B.靈敏度調(diào)節(jié)
C.分辨力測(cè)定
D.探頭入射點(diǎn)測(cè)定
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A.放在
B.不放在
C.將表面波探頭放大鋼板上
D.將蘭姆波探頭放在
A.鍛造缺陷一般與鍛造纖維方向平行
B.探測(cè)面通常選擇與鍛造纖維方向平行的面
C.鍛件尺寸大,縱波探傷穿透力強(qiáng)
D.以上三種原因都是
A.放大器
B.接收器
C.脈沖發(fā)生器
D.同步發(fā)生器
A.產(chǎn)生發(fā)射脈沖,加在探頭上產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)。
B.產(chǎn)生鋸齒波信號(hào)。
C.產(chǎn)生脈沖信號(hào),用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作。
D.加在示波管陽(yáng)極上,加速電子
A.檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能
B.確定靈敏度
C.缺陷定位
D.缺陷定量
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。