A.50×50mm2
B.100×100mm2
C.317×317mm2
D.447×447mm2
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A.6dB法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.以上A或B
D.以上A和B
A.平面型缺陷
B.非平面型缺陷
C.以上A或B
D.以上都不是
A.三級(jí)
B.四級(jí)
C.五級(jí)
D.以上都不是
A.JB/2Q6109-84
B.GB/T7233-87
C.JB4730-94
D.以上都是
A.缺陷回波幅度的等于或大于距離波幅曲線的位置
B.底面回?fù)芊冉档?2dB或12dB以上的位置
C.不論缺陷回波幅度的大小,凡出現(xiàn)線狀和片狀缺陷顯示的位置
D.以上都是
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。