A.密度之比
B.彈性模量之比
C.聲阻抗之比
D.聲速之比
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A.輻射功率
B.透過(guò)率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.2.36mm
B.1.3mm
C.2.6mm
D.1.26mm
A.縱波
B.橫波
C.板波
D.表面波
E.以上都是
A.提高
B.降低
C.不變
D.不定
A.材料的彈性
B.材料的密度
C.超聲波的聲型
D.以上全部
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
儀器水平線性影響()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。