A.電子轟擊
B.電子放大器
C.熒光屏
D.電子計(jì)算機(jī)
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A.等于入射角
B.與使用的耦合劑有關(guān)
C.與使用頻率有關(guān)
D.等于折射角
A.放大管
B.脈沖管
C.陰極射線管
D.掃描管
A.不太高頻率的探頭
B.較高頻率的探頭
C.硬保護(hù)膜探頭
D.上述三種均無(wú)需考慮
A.越高越好
B.越低越好
C.不太高的頻率
D.較尋常為高的頻率
A.面積大的,當(dāng)量也一定大
B.面積大的,當(dāng)量不一定比面積小的為大
C.面積大的,當(dāng)量反而要比面積小的要小
D.它們的當(dāng)量相等
最新試題
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。