A.與直徑4mm 的平底孔的面積相同
B.大于直徑4mm平底孔的面積
C.稍小于直徑4mm平底孔的面積
D.約為直徑4mm平底孔的面積
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A.方波圖形
B.掃描線
C.標(biāo)志圖形
D.上述三種都不對
A.較低頻率的探頭和較粘的耦合劑
B.較高頻率的探頭和較粘的耦合劑
C.較高頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
D.較低頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
A.衰減
B.折射
C.波束擴(kuò)散
D.飽和
A.掃描電路有關(guān)
B.頻帶寬度有關(guān)
C.脈沖振鈴時(shí)間有關(guān)
D.放大倍數(shù)有關(guān)
A.鍛件
B.棒坯
C.鑄錠
D.薄板
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。