電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

紅外光分為（）。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

根據(jù)衍襯運動學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。