A.將始波對(duì)準(zhǔn)零位
B.將一次界面波對(duì)準(zhǔn)零位
C.將零件一次底波對(duì)準(zhǔn)零位
D.以上都可以
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A.利用始脈沖至1次底波之間的距離；
B.利用界面波至1次底波之間的距離；
C.利用一次底波和二次底波之間的距離；
D.以上都可以。
A.利用始脈沖至1次底波之間的距離；
B.利用界面波至1次底波之間的距離；
C.利用一次底波和二次底波之間的距離；
D.以上都可以。
A.直射縱波無(wú)法檢測(cè)孔周圍裂紋，只能采用橫波檢測(cè)；
B.由于往返透射率較高，因此多數(shù)采用45º橫波檢測(cè)；
C.某種情況下，橫波可以透過(guò)上層板發(fā)現(xiàn)第二層結(jié)構(gòu)裂紋；
D.以上都是。
A.接近比較困難，需要專用輔助工具完成檢測(cè)
B.往往需要專項(xiàng)培訓(xùn)才能實(shí)施檢測(cè)
C.熟練的操作和豐富的經(jīng)驗(yàn)是必要的，否則可能出現(xiàn)漏檢或誤判
D.以上都是
A.材料的聲速低
B.材料的晶粒組織粗大
C.表面粗糙且不平整
D.以上都有可能
最新試題
（）是影響缺陷定量的因素。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。